Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Standard Terminology Relating to Surface Analysis
Automaticky preložený názov:
Štandardné Terminológia V súvislosti so povrchová analýza
NORMA vydaná dňa 10.7.2002
Označenie normy: ASTM E673-02
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.7.2002
Kód tovaru: NS-47607
Počet strán: 10
Približná hmotnosť: 30 g (0.07 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Keywords:
terminology, ICS Number Code 01.040.17 (Metrology and measurement. Physical phenomena (Vocabularies)),17.040.20 (Properties of surfaces)
1. Scope |
1.1 This terminology is related to the various disciplines involved in surface analysis. 1.2 The definitions listed apply to (a) Auger electron spectroscopy (AES), (b) X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), (c) ion-scattering spectroscopy (ISS), (d) secondary ion mass spectrometry (SIMS), and (e) energetic ion analysis (EIA). |
Posledná aktualizácia: 2024-05-17 (Počet položiek: 2 902 148)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.