Norma ASTM E3517/E3517M-26 1.2.2026 náhľad

ASTM E3517/E3517M-26

Standard Practice for Flaw Sizing using Total Focusing Method



NORMA vydaná dňa 1.2.2026


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena63.10 bez DPH
63.10

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E3517/E3517M-26
Dátum vydania normy: 1.2.2026
Kód tovaru: NS-1263091
Počet strán: 7
Približná hmotnosť: 21 g (0.05 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM E3517/E3517M-26 :

Keywords:

flaw sizing, full matrix capture, plane-wave imaging, total focusing method, ultrasonic,

Odporúčame:

Aktualizácia technických noriem

Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.

Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.