ASTM E2444-11(2018)

Standard Terminology Relating to Measurements Taken on Thin, Reflecting Films



NORMA vydaná dňa 1.5.2018


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena58.60 bez DPH
58.60

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E2444-11(2018)
Dátum vydania normy: 1.5.2018
Kód tovaru: NS-848389
Počet strán: 2
Približná hmotnosť: 6 g (0.01 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM E2444-11(2018) :

Keywords:

cantilevers, definitions, fixed-fixed beams, interferometry, length measurements, microelectromechanical systems, MEMS, polysilicon, residual strain, stiction, strain gradient, terminology, test structure,, ICS Number Code 01.040.31 (Electronics (Vocabularies)), 31.240 (Mechanical structures for electronic equipment)

Odporúčame:

EviZak - všetky zákony vrátane ich evidencie na jednom mieste

Poskytovanie aktuálnych informácií o legislatívnych predpisoch vyhlásených v Zbierke zákonov od roku 1945.
Aktualizácia 2x v mesiaci !

Chcete vedieť viac informácii ? Pozrite sa na túto stránku.




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.