Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ASTM E2444-11(2018)
Standard Terminology Relating to Measurements Taken on Thin, Reflecting Films
NORMA vydaná dňa 1.5.2018
Informácie o norme:
Označenie normy: ASTM E2444-11(2018)
Dátum vydania normy: 1.5.2018
Kód tovaru: NS-848389
Počet strán: 2
Približná hmotnosť: 6 g (0.01 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Kategórie - podobné normy:
Elektronika (názvosloví)
Mechanické konstrukce pro elektronická zařízení
Anotácia textu normy ASTM E2444-11(2018) :
Keywords:
cantilevers, definitions, fixed-fixed beams, interferometry, length measurements, microelectromechanical systems, MEMS, polysilicon, residual strain, stiction, strain gradient, terminology, test structure,, ICS Number Code 01.040.31 (Electronics (Vocabularies)), 31.240 (Mechanical structures for electronic equipment)
Doplňujúce informácie
| 1. Scope | ||||||||
|
1.1 This standard consists of terms and definitions pertaining to measurements taken on thin, reflecting films, such as found in microelectromechanical systems (MEMS) materials. In particular, the terms are related to the standards in Section 2, which were generated by Committee E08 on Fatigue and Fracture. Terminology E1823 Relating to Fatigue and Fracture Testing is applicable to this standard. 1.2 The terms are listed in alphabetical order. 1.3 This international standard was developed in accordance with internationally recognized principles on standardization established in the Decision on Principles for the Development of International Standards, Guides and Recommendations issued by the World Trade Organization Technical Barriers to Trade (TBT) Committee. |
||||||||
| 2. Referenced Documents | ||||||||
|
Odporúčame:
Aktualizácia zákonov
Chcete mať istotu o platnosti využívaných predpisov?
Ponúkame Vám riešenie, aby ste mohli používať stále platné (aktuálne) legislatívne predpisy
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
