Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ASTM E2444-05e1
Terminology Relating to Measurements Taken on Thin, Reflecting Films (Includes all amendments And changes 12/23/2011).
Automaticky preložený názov:
Terminológia V súvislosti so meraní vykonaných na tenkých , Reflecting Films
NORMA vydaná dňa 1.5.2005
Informácie o norme:
Označenie normy: ASTM E2444-05e1
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.5.2005
Kód tovaru: NS-45310
Počet strán: 3
Približná hmotnosť: 9 g (0.02 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Anotácia textu normy ASTM E2444-05e1 :
Keywords:
ICS Number Code 01.040.31 (Electronics (Vocabularies)), 31.240 (Mechanical structures for electronic equipment)
Doplňujúce informácie
| 1. Scope | ||||||||
|
1.1 This standard consists of terms and definitions pertaining to measurements taken on thin, reflecting films, such as found in microelectromechanical systems (MEMS) materials. In particular, the terms are related to the standards in Section , which were generated by Committee E08 on Fatigue and Fracture. Terminology E 1823 Relating to Fatigue and Fracture Testing is applicable to this standard. 1.2 The terms are listed in alphabetical order. |
||||||||
| 2. Referenced Documents | ||||||||
|
Doporučujeme:
