ASTM E2382-04(2012)

Standard Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy

Automaticky preložený názov:

Štandardné Sprievodca po Scanner a Tip Súvisiace Artefakty v Scanning Tunneling mikroskopie a mikroskopia atomárnych síl



NORMA vydaná dňa 1.11.2012


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena83.40 bez DPH
83.40

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E2382-04(2012)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.11.2012
Kód tovaru: NS-45189
Počet strán: 18
Približná hmotnosť: 54 g (0.12 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Kategórie - podobné normy:

Vlastnosti ploch

Anotácia textu normy ASTM E2382-04(2012) :

Keywords:

Abbe offset error, creep, dilation, hysteresis, nonlinearity, probe-sample mixing, AFM, STM, tip shape, proximal probe, geometric mixing, image reconstruction, ICS Number Code 17.040.20 (Properties of surfaces)

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.