Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Standard Test Method for Use of 2N2222A Silicon Bipolar Transistors as Neutron Spectrum Sensors and Displacement Damage Monitors
Automaticky preložený názov:
Štandardná skúšobná metóda pre použitie 2N2222A Silicon bipolárnych tranzistorov , ako neutrónové Spectrum Senzory a vysídlenie Monitory Damage
NORMA vydaná dňa 10.12.1996
Označenie normy: ASTM E1855-96
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.12.1996
Kód tovaru: NS-43330
Počet strán: 11
Približná hmotnosť: 33 g (0.07 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Keywords:
Displacement damage, Neutron damage, Radiation hardness, Silicon transistors, Spectrum sensors, ICS Number Code 31.200 (Integrated circuits. Microelectron)
| 1. Scope | ||||||||||||||||||||||
|
1.1 This test method covers how 2N2222A silicon bipolar transistors can be used either as dosimetry sensors in the determination of neutron energy spectra, or as silicon 1-MeV equivalent displacement damage fluence monitors. |
||||||||||||||||||||||
| 2. Referenced Documents | ||||||||||||||||||||||
|
Posledná aktualizácia: 2026-01-11 (Počet položiek: 2 254 176)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.