Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ASTM E1634-26
Standard Guide for Performing Sputter Crater Depth Measurements
NORMA vydaná dňa 1.10.2026
Informácie o norme:
Označenie normy: ASTM E1634-26
Dátum vydania normy: 1.10.2026
Kód tovaru: NS-1288309
Počet strán: 3
Približná hmotnosť: 9 g (0.02 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy ASTM E1634-26 :
Keywords:
Auger electron spectroscopy, secondary ion mass spectrometry, stylus profilometry, surface analysis , X-ray photoelectron spectroscopy,, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)
Doporučujeme:
