Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Standard Guide for Reporting of Ion Beam Parameters Used in Surface Analysis
Automaticky preložený názov:
Štandardné Príručka pre Hlásenie iónového zväzku parametrov použitých v analýze Surface
NORMA vydaná dňa 10.4.2000
Označenie normy: ASTM E1577-95(2000)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.4.2000
Kód tovaru: NS-42244
Počet strán: 2
Približná hmotnosť: 6 g (0.01 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Keywords:
ion beam sputtering, surface analysis, ICS Number Code 17.040.20 (Properties of surfaces)
1. Scope | ||||
1.1 This guide covers the information needed to characterize ion beams used in surface analysis. 1.2 This guide does not cover all information required to perform a sputter depth profile (see referenced documents), specify any properties of the specimen except its surface normal, and discuss the rationale for choosing a particular set of ion beam parameters (1). This guide does assume that the ion flux has a unique direction, that is, is an ion beam, rather than a wide spectrum of velocity vectors more typical of a plasma. 1.3 This standard does not purport to address all of the safety concerns, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use. |
||||
2. Referenced Documents | ||||
|
Poskytovanie aktuálnych informácií o legislatívnych predpisoch vyhlásených v Zbierke zákonov od roku 1945.
Aktualizácia 2x v mesiaci !
Chcete vedieť viac informácii ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2024-08-19 (Počet položiek: 2 343 608)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.