Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Standard Guide for Determining SIMS Relative Sensitivity Factors from Ion Implanted External Standards
Automaticky preložený názov:
Štandardné Sprievodca pre určujúcich faktorov SIMS Relatívna Citlivosť od Ion implantovanou externými štandardy
NORMA vydaná dňa 15.11.1992
Označenie normy: ASTM E1505-92(1996)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 15.11.1992
Kód tovaru: NS-41993
Počet strán: 3
Približná hmotnosť: 9 g (0.02 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Keywords:
SIMS
1. Scope | ||
1.1 The purpose of this guide is to provide the secondary ion mass spectrometry (SIMS) analyst with two procedures for determining relative sensitivity factors (RSFs) from ion implanted external standards. This guide may be used for obtaining the RSFs of trace elements (<1 atomic %) in homogeneous (chemically and structurally) specimens. This guide is useful for all SIMS instruments. 1.2 This guide does not describe procedures for obtaining RSFs for major elements (>1 atomic %). In addition, this guide does not describe procedures for obtaining RSFs from implants in heterogeneous (either laterally or in-depth) specimens. 1.3 The values stated in SI units are to be regarded as the standard. 1.4 This standard does not purport to address all of the safety concerns, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use. |
||
2. Referenced Documents | ||
|
Posledná aktualizácia: 2024-07-21 (Počet položiek: 2 338 123)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.