Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ASTM E1438-26
Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS
NORMA vydaná dňa 1.10.2026
Informácie o norme:
Označenie normy: ASTM E1438-26
Dátum vydania normy: 1.10.2026
Kód tovaru: NS-1288307
Počet strán: 3
Približná hmotnosť: 9 g (0.02 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy ASTM E1438-26 :
Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
Odporúčame:
EviZak - všetky zákony vrátane ich evidencie na jednom mieste
Poskytovanie aktuálnych informácií o legislatívnych predpisoch vyhlásených v Zbierke zákonov od roku 1945.
Aktualizácia 2x v mesiaci !
Chcete vedieť viac informácii ? Pozrite sa na túto stránku.
