ASTM E1426-98(2009)e1

Standard Test Method for Determining the Effective Elastic Parameter for X-Ray Diffraction Measurements of Residual Stress (Includes all amendments And changes 2/27/2015).

Automaticky preložený názov:

Štandardná skúšobná metóda stanovenia efektívnej Elastic parametrom pre röntgenová difrakcia Meranie zvyškových napätí



NORMA vydaná dňa 1.6.2009


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena79.70 bez DPH
79.70

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E1426-98(2009)e1
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.6.2009
Kód tovaru: NS-41723
Počet strán: 5
Približná hmotnosť: 15 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM E1426-98(2009)e1 :

Keywords:

elastic parameter, residual stress, x-ray diffraction, Crystal lattice structure, Effective elastic parameter (Eeff), Macroscopic analysis, Polycrystalline materials, Residual stress, Stress--metallic materials, X-ray diffraction analysis, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.