ASTM E1426-98

Standard Test Method for Determining the Effective Elastic Parameter for X-Ray Diffraction Measurements of Residual Stress

Automaticky preložený názov:

Štandardná skúšobná metóda stanovenia efektívnej Elastic parametrom pre röntgenová difrakcia Meranie zvyškových napätí



NORMA vydaná dňa 10.10.1998


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena59.30 bez DPH
59.30

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E1426-98
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.10.1998
Kód tovaru: NS-41724
Počet strán: 4
Približná hmotnosť: 12 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM E1426-98 :

Keywords:
Crystal lattice structure, Effective elastic parameter (Eeff), Macroscopic analysis, Polycrystalline materials, Residual stress, Stress, X-ray diffraction, effective elastic parameter (Eeff) for X-ray diffraction measurements of, residual stress, test

Odporúčame:

Aktualizácia technických noriem

Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.

Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.