Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Standard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
Automaticky preložený názov:
Štandardná prax pre Reporting naprašovaním hĺbka profilu dáta v sekundárnej iónová hmotnostná spektrometria ( SIMS )
NORMA vydaná dňa 24.4.1987
Označenie normy: ASTM E1162-87(1996)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 24.4.1987
Kód tovaru: NS-40679
Počet strán: 3
Približná hmotnosť: 9 g (0.02 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Keywords:
data analysis-spectrochemical, depth profiling, secondary ion mass spectrometry (SIMS), spectrometry-mass, sputter depth profiling data, surface analysis-spectrochemical analysis
1. Scope | ||
1.1 This practice covers the information needed to describe and report instrumentation, specimen parameters, experimental conditions, and data reduction procedures. SIMS sputter depth profiles can be obtained using a wide variety of primary beam excitation conditions, mass analysis, data acquisition, and processing techniques (1-4). 1.2 Limitations—This practice is limited to conventional sputter depth profiles in which information is averaged over the analyzed area in the plane of the specimen. Ion microprobe or microscope techniques permitting lateral spatial resolution of secondary ions within the analyzed area, for example, image depth profiling, are excluded. 1.3 This standard does not purport to address all of the safety concerns, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use. |
||
2. Referenced Documents | ||
|
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2024-09-04 (Počet položiek: 2 346 114)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.