ASTM E1161-95

Standard Test Method for Radiologic Examination of Semiconductors and Electronic Components

Automaticky preložený názov:

Štandardná skúšobná metóda pre rádiologické vyšetrenie polovodičov a elektronických súčiastok



NORMA vydaná dňa 1.1.1995


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena59.70 bez DPH
59.70

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E1161-95
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.1.1995
Kód tovaru: NS-40676
Počet strán: 3
Približná hmotnosť: 9 g (0.02 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM E1161-95 :

Keywords:
Defects,emsemiconductors, Electrical conductors,emsemiconductors, Electronic materials/applications, Sealing glass defects, Voids, X-irradiation, radiographic testing of semiconductors and electronic components, test,, Radiographic testing, semiconductors and electronic components, test,,Order Form, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)

Odporúčame:

Aktualizácia technických noriem

Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.

Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.