ASTM E1161-03

Standard Test Method for Radiologic Examination of Semiconductors and Electronic Components

Automaticky preložený názov:

Štandardná skúšobná metóda pre rádiologické vyšetrenie polovodičov a elektronických súčiastok



NORMA vydaná dňa 10.6.2003


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena59.70 bez DPH
59.70

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E1161-03
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.6.2003
Kód tovaru: NS-40673
Počet strán: 4
Približná hmotnosť: 12 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM E1161-03 :

Keywords:
electronic devices, nondestructive testing, radiographic, radioscopy, semiconductors, X-Ray

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.