Pozor!

Vo Vašom prehliadači nie je aktuálne povolené spúšťanie Javascriptu. Je možné, že niektoré funkcie nebudú fungovať správne. Pre plnú funkčnosť internetového obchodu odporúčame povoliť Javascript. Tu sú inštrukcie ako povoliť JavaScript vo Vašom webovom prehliadači.

Zobrazovaná mena: €

Zobrazenie ceny: bez DPH

NEPLATNÁ ASTM E1127-91(1997) 10.9.1997 náhľad

Doplňujúce informácie

ASTM E1127-91(1997)

Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy

Automaticky preložený názov:

Štandardné Sprievodca pre hĺbkové profilovanie v Auger elektrónové spektroskopia

NORMA vydaná dňa 10.9.1997

Jazyk
Prevedenie	PDF - okamžité stiahnutie - 59.40 € Tlačené - 59.40 €
Dostupnosť	SKLADOM
Cena	59.40 € bez DPH
59.40 €

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E1127-91(1997)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.9.1997
Kód tovaru: NS-40555
Počet strán: 4
Približná hmotnosť: 12 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Tlač

Odoslať známemu

Otázka

Anotácia textu normy ASTM E1127-91(1997) :

Keywords:
Angle lapping, Argon atmospheres, Ball cratering, Crater edge profiling, Depth profiling, Gases, Ion sputtering, Noble gas ions, Nondestructive evaluation (NDE), Polishing properties, Spectroscopy-auger electron (AES), Sputter depth profiling data, Surface analysis-spectrochemical analysis, Xenon, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)

Doplňujúce informácie

1. Scope

1.1 This guide covers procedures used for depth profiling in Auger electron spectroscopy.

1.2 Guidelines are given for depth profiling by the following:

Section Ion Sputtering 6 Angle Lapping and Cross-Sectioning 7 Mechanical Cratering 8 Nondestructive Depth Profiling 9

1.3 This standard does not purport to address all of the safety problems, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use.

2. Referenced Documents

ISO/TR?22335:?2007	Surface Chemical Analysis--Depth Profiling--Measurement of Sputtering Rate: Mesh-Replica Method Using a Mechanical Stylus Profilometer
E1829-14(2020)	Standard Guide for Handling Specimens Prior to Surface Analysis
E1636-10	Standard Practice for Analytically Describing Depth-Profile and Linescan-Profile Data by an Extended Logistic Function (Withdrawn 2019)
E827-08	Standard Practice for Identifying Elements by the Peaks in Auger Electron Spectroscopy (Withdrawn 2017)
E996-19	Standard Practice for Reporting Data in Auger Electron Spectroscopy and X-ray Photoelectron Spectroscopy
E1078-14(2020)	Standard Guide for Specimen Preparation and Mounting in Surface Analysis
E1577-11	Standard Guide for Reporting of Ion Beam Parameters Used in Surface Analysis (Withdrawn 2020)
E673-03	Standard Terminology Relating to Surface Analysis (Withdrawn 2012)
E684-04	Standard Practice for Approximate Determination of Current Density of Large-Diameter Ion Beams for Sputter Depth Profiling of Solid Surfaces (Withdrawn 2012)
E1634-11(2019)	Standard Guide for Performing Sputter Crater Depth Measurements

Odporúčame:

Aktualizácia technických noriem

Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.

Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.