ASTM E1127-08(2015)

Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy (Withdrawn 2024)

Automaticky preložený názov:

Štandardné Sprievodca pre hĺbkové profilovanie v Auger elektrónové spektroskopia



NORMA vydaná dňa 1.6.2015


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena76.30 bez DPH
76.30

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E1127-08(2015)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.6.2015
Kód tovaru: NS-591391
Počet strán: 5
Približná hmotnosť: 15 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Kategórie - podobné normy:

Fyzikálně chemické analytické metody

Anotácia textu normy ASTM E1127-08(2015) :

Keywords:

angle lapping, angle-resolved AES, Auger electron spectroscopy, ball cratering, compositional depth profiling, cross sectioning, depth profiling, depth resolution, sputter depth profiling, sputtering, thin films,, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.