ASTM E1127-08

Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy

Automaticky preložený názov:

Štandardné Sprievodca pre hĺbkové profilovanie v Auger elektrónové spektroskopie



NORMA vydaná dňa 1.10.2008


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena79.70 bez DPH
79.70

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E1127-08
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.10.2008
Kód tovaru: NS-40554
Počet strán: 5
Približná hmotnosť: 15 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM E1127-08 :

Keywords:

angle lapping, angle-resolved AES, Auger electron spectroscopy, ball cratering, compositional depth profiling, cross sectioning, depth profiling, depth resolution, sputter depth profiling, sputtering, thin films, Surface analysis--spectrochemical analysis, Angle lapping and staining technique, Argon atmospheres, Auger electron spectroscopy (AES), Ball cratering, Crater edge profiling, Depth profiling, Gases, Ion sputtering, Noble gas ions, Nondestructive evaluation (NDE), Polishing properties

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.