JIS R1637:1998

Test method for resistivity of conductive fine ceramic thin films with a four-point probe array

NORMA vydaná dňa 31.1.1998

Anglicky -
Elektronické PDF (NA OTÁZKU)

Anglicky -

Tlačené (NA OTÁZKU)

Japonsky -

Elektronické PDF (NA OTÁZKU)

Japonsky -

Tlačené (NA OTÁZKU)

Informácie o norme:

Označenie normy: JIS R1637:1998
Dátum vydania normy: 31.1.1998
Počet strán: 4
Približná hmotnosť: 12 g (0.03 libier)
Krajina: Ostatné normy
Kategória: Technické normy JIS