JIS R1636:1998

Test method for thickness of fine ceramic thin films -- Film thickness by contact probe profilometer

NORMA vydaná dňa 31.1.1998

Anglicky -
Elektronické PDF (NA OTÁZKU)

Anglicky -

Tlačené (NA OTÁZKU)

Japonsky -

Elektronické PDF (NA OTÁZKU)

Japonsky -

Tlačené (NA OTÁZKU)

The information about the standard:

Designation standards: JIS R1636:1998
Publication date standards: 31.1.1998
The number of pages: 6
Approximate weight : 18 g (0.04 lbs)
Country: Other standards
Kategória: Technické normy JIS