JIS R1636:1998

Test method for thickness of fine ceramic thin films -- Film thickness by contact probe profilometer

NORMA vydaná dňa 31.1.1998

Anglicky -
Elektronické PDF (NA OTÁZKU)

Anglicky -

Tlačené (NA OTÁZKU)

Japonsky -

Elektronické PDF (NA OTÁZKU)

Japonsky -

Tlačené (NA OTÁZKU)

Informácie o norme:

Označenie normy: JIS R1636:1998
Dátum vydania normy: 31.1.1998
Počet strán: 6
Približná hmotnosť: 18 g (0.04 libier)
Krajina: Ostatné normy
Kategória: Technické normy JIS