JIS K0190:2010

Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry

NORMA vydaná dňa 20.4.2010

Japonsky -
Elektronické PDF (NA OTÁZKU)

Japonsky -

Tlačené (NA OTÁZKU)

Informácie o norme:

Označenie normy: JIS K0190:2010
Dátum vydania normy: 20.4.2010
Počet strán: 12
Približná hmotnosť: 36 g (0.08 libier)
Krajina: Ostatné normy
Kategória: Technické normy JIS