JIS K0189:2013

Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Determination of experimental parameters for wavelength dispersive X-ray spectroscopy

NORMA vydaná dňa 22.7.2013

Japonsky -
Elektronické PDF (NA OTÁZKU)

Japonsky -

Tlačené (NA OTÁZKU)

Informácie o norme:

Označenie normy: JIS K0189:2013
Dátum vydania normy: 22.7.2013
Počet strán: 18
Približná hmotnosť: 54 g (0.12 libier)
Krajina: Ostatné normy
Kategória: Technické normy JIS