JIS K0169:2012

Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry (SIMS) -- Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials

NORMA vydaná dňa 20.4.2012

Japonsky -
Elektronické PDF (NA OTÁZKU)

Japonsky -

Tlačené (NA OTÁZKU)

Informácie o norme:

Označenie normy: JIS K0169:2012
Dátum vydania normy: 20.4.2012
Počet strán: 8
Približná hmotnosť: 24 g (0.05 libier)
Krajina: Ostatné normy
Kategória: Technické normy JIS