JIS K0160:2026

Surface chemical analysis-Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy

NORMA vydaná dňa 20.1.2026

Japonsky -
Elektronické PDF (NA OTÁZKU)

Japonsky -

Tlačené (NA OTÁZKU)

Informácie o norme:

Označenie normy: JIS K0160:2026
Dátum vydania normy: 20.1.2026
Počet strán: 24
Približná hmotnosť: 72 g (0.16 libier)
Krajina: Ostatné normy
Kategória: Technické normy JIS