JIS K0148:2005

Surface chemical analysis -- Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy

NORMA vydaná dňa 20.3.2005

Anglicky -
Elektronické PDF (NA OTÁZKU)

Anglicky -

Tlačené (NA OTÁZKU)

Japonsky -

Elektronické PDF (NA OTÁZKU)

Japonsky -

Tlačené (NA OTÁZKU)

The information about the standard:

Designation standards: JIS K0148:2005
Publication date standards: 20.3.2005
The number of pages: 26
Approximate weight : 78 g (0.17 lbs)
Country: Other standards
Kategória: Technické normy JIS

Annotation of standard text JIS K0148:2005 :

Japanese Errata (200510)