JIS K0146:2002

Surface chemical analysis -- Sputter depth profiling -- Optimization using layered systems as reference materials

NORMA vydaná dňa 30.4.2002

Informácie o norme:

Označenie normy: JIS K0146:2002
Dátum vydania normy: 30.4.2002
Počet strán: 20
Približná hmotnosť: 60 g (0.13 libier)
Krajina: Ostatné normy
Kategória: Technické normy JIS