JIS K0143:2023

Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials

NORMA vydaná dňa 20.2.2023

Japonsky -
Elektronické PDF (NA OTÁZKU)

Japonsky -

Tlačené (NA OTÁZKU)

Informácie o norme:

Označenie normy: JIS K0143:2023
Dátum vydania normy: 20.2.2023
Počet strán: 22
Približná hmotnosť: 66 g (0.15 libier)
Krajina: Ostatné normy
Kategória: Technické normy JIS