JIS H0614:1996

Visual inspection for silicon wafers with specular surfaces

NORMA vydaná dňa 31.1.1996

Informácie o norme:

Označenie normy: JIS H0614:1996
Dátum vydania normy: 31.1.1996
Počet strán: 8
Približná hmotnosť: 24 g (0.05 libier)
Krajina: Ostatné normy
Kategória: Technické normy JIS