JIS H0613:1978

Visual inspection for sliced and lapped silicon wafers

NORMA vydaná dňa 5.1.1978

Informácie o norme:

Označenie normy: JIS H0613:1978
Dátum vydania normy: 5.1.1978
Počet strán: 4
Približná hmotnosť: 12 g (0.03 libier)
Krajina: Ostatné normy
Kategória: Technické normy JIS