JIS H0611:1994

Methods of measurement of thickness, thickness variation and bow for silicon wafer

NORMA vydaná dňa 28.2.1994

Informácie o norme:

Označenie normy: JIS H0611:1994
Dátum vydania normy: 28.2.1994
Počet strán: 6
Približná hmotnosť: 18 g (0.04 libier)
Krajina: Ostatné normy
Kategória: Technické normy JIS