JIS H0604:1995

Measuring of minority-carrier lifetime in silicon single crystal by photoconductive decay method

NORMA vydaná dňa 31.7.1995

Informácie o norme:

Označenie normy: JIS H0604:1995
Dátum vydania normy: 31.7.1995
Počet strán: 6
Približná hmotnosť: 18 g (0.04 libier)
Krajina: Ostatné normy
Kategória: Technické normy JIS