JIS C5630-6:2011

Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials

NORMA vydaná dňa 22.8.2011

Japonsky -
Elektronické PDF (NA OTÁZKU)

Japonsky -

Tlačené (NA OTÁZKU)

Informácie o norme:

Označenie normy: JIS C5630-6:2011
Dátum vydania normy: 22.8.2011
Počet strán: 12
Približná hmotnosť: 36 g (0.08 libier)
Krajina: Ostatné normy
Kategória: Technické normy JIS