NORMSERVIS s.r.o.

JIS C5630-3:2009

Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices-- Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing

NORMA vydaná dňa 20.3.2009

Japonsky -
Elektronické PDF (NA OTÁZKU)
Japonsky -
Tlačené (NA OTÁZKU)

Informácie o norme:

Označenie normy: JIS C5630-3:2009
Dátum vydania normy: 20.3.2009
Počet strán: 6
Približná hmotnosť: 18 g (0.04 libier)
Krajina: Ostatné normy
Kategória: Technické normy JIS