JIS C5630-26:2017

Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 26: Description and measurement methods for micro trench and needle structures

NORMA vydaná dňa 20.10.2017

Japonsky -
Elektronické PDF (NA OTÁZKU)

Japonsky -

Tlačené (NA OTÁZKU)

Informácie o norme:

Označenie normy: JIS C5630-26:2017
Dátum vydania normy: 20.10.2017
Počet strán: 24
Približná hmotnosť: 72 g (0.16 libier)
Krajina: Ostatné normy
Kategória: Technické normy JIS