JIS C2162:2010

Test method of long-term reliability of gate insulator for SiC devices at high temperature

NORMA vydaná dňa 23.3.2010

Informácie o norme:

Označenie normy: JIS C2162:2010
Dátum vydania normy: 23.3.2010
Počet strán: 9
Približná hmotnosť: 27 g (0.06 libier)
Krajina: Ostatné normy
Kategória: Technické normy JIS