Norma DIN 51456:2013-10 1.10.2013 náhľad

DIN 51456:2013-10

Testing of materials for semiconductor technology - Surface analysis of silicon wafers by multielement determination in aqueous analysis solutions using mass spectrometry with inductively coupled plasma (ICP-MS).

Automaticky preložený názov:

Testovanie materiálov pre polovodičové technológie - Povrchová analýza kremíkových dosiek podľa multielement stanovenie vo vodných roztokoch analýzy pomocou hmotnostnej spektrometrie s indukčne viazanou plazmou (ICP-MS).



NORMA vydaná dňa 1.10.2013


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena65.90 bez DPH
65.90

Informácie o norme:

Označenie normy: DIN 51456:2013-10
Dátum vydania normy: 1.10.2013
Kód tovaru: NS-204698
Počet strán: 15
Približná hmotnosť: 45 g (0.10 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN

Kategórie - podobné normy:

Integrované obvody. Mikroelektronika

Anotácia textu normy DIN 51456:2013-10 :

Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Oberflächenanalyse von Silicium-Halbleiterscheiben (Wafer) durch Multielementbestimmung in wässrigen Analysenlösungen mittels Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-MS).

Odporúčame:

Aktualizácia technických noriem

Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.

Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.