Optical metrology of microtopographies - Calibration of interferometers and interference microscopes for form measurement.
NORMA vydaná dňa 1.2.2020
Označenie normy: VDI/VDE 2655Blatt1.3
Dátum vydania normy: 1.2.2020
Počet strán: 50
Približná hmotnosť: 150 g (0.33 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy VDI
Optische Messtechnik an Mikrotopografien - Kalibrieren von flächenhaft messenden Interferometern und Interferenzmikroskopen für die Formmessung.