UNE-EN IEC 60749-37:2022

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in January of 2023.)

NORMA vydaná dňa 1.1.2023

Anglicky -
Elektronické PDF (71.50 EUR)
Anglicky -
Tlačené (78.70 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: UNE-EN IEC 60749-37:2022
Dátum vydania normy: 1.1.2023
Počet strán: 29
Približná hmotnosť: 87 g (0.19 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE