UNE-EN IEC 60749-28:2022

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in May of 2022.)

NORMA vydaná dňa 1.5.2022

Anglicky -
Elektronické PDF (100.00 EUR)
Anglicky -
Tlačené (110.00 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: UNE-EN IEC 60749-28:2022
Dátum vydania normy: 1.5.2022
Počet strán: 57
Približná hmotnosť: 171 g (0.38 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE