UNE-EN IEC 60749-23:2026

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in March of 2026.)

NORMA vydaná dňa 1.3.2026

Anglicky -
Elektronické PDF (54.90 EUR)
Anglicky -
Tlačené (60.40 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: UNE-EN IEC 60749-23:2026
Dátum vydania normy: 1.3.2026
Počet strán: 17
Približná hmotnosť: 51 g (0.11 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE