Non-destructive testing - Characteristics of focal spots in industrial X-ray systems for use in non-destructive testing - Part 4: Edge method
NORMA vydaná dňa 31.5.2000
Označenie normy: UNE-EN 12543-4:2000
Dátum vydania normy: 31.5.2000
Počet strán: 11
Približná hmotnosť: 33 g (0.07 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE