UNE-EN 62374:2007

Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films (IEC 62374:2007). (Endorsed by AENOR in February of 2008.)

NORMA vydaná dňa 1.11.2013

Anglicky -
Elektronické PDF (66.60 EUR)

Anglicky -

Tlačené (73.30 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: UNE-EN 62374:2007
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.11.2013
Počet strán: 25
Približná hmotnosť: 75 g (0.17 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE