UNE-EN 62374-1:2010

Semiconductor devices -- Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers (Endorsed by AENOR in March of 2011.)

NORMA vydaná dňa 1.3.2011

Anglicky -
Elektronické PDF (62.70 EUR)

Anglicky -

Tlačené (69.00 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: UNE-EN 62374-1:2010
Dátum vydania normy: 1.3.2011
Počet strán: 19
Približná hmotnosť: 57 g (0.13 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE