UNE-EN 62373:2006

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) (IEC 62373:2006). (Endorsed by AENOR in November of 2006.)

NORMA vydaná dňa 1.11.2006

Anglicky -
Elektronické PDF (59.80 EUR)

Anglicky -

Tlačené (65.80 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: UNE-EN 62373:2006
Dátum vydania normy: 1.11.2006
Počet strán: 17
Približná hmotnosť: 51 g (0.11 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE