UNE-EN 62047-17:2015

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 17: Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films (Endorsed by AENOR in August of 2015.)

NORMA vydaná dňa 1.8.2015

Anglicky -
Elektronické PDF (73.50 EUR)

Anglicky -

Tlačené (80.80 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: UNE-EN 62047-17:2015
Dátum vydania normy: 1.8.2015
Počet strán: 31
Približná hmotnosť: 93 g (0.21 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE