
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 13: Bend- and shear- type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures (Endorsed by AENOR in June of 2012.)
NORMA vydaná dňa 1.6.2012
Označenie normy: UNE-EN 62047-13:2012
Dátum vydania normy: 1.6.2012
Počet strán: 18
Približná hmotnosť: 54 g (0.12 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE