
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in July of 2017.)
NORMA vydaná dňa 1.7.2017
Označenie normy: UNE-EN 60749-9:2017
Dátum vydania normy: 1.7.2017
Počet strán: 18
Približná hmotnosť: 54 g (0.12 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE