
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking
NORMA vydaná dňa 30.5.2003
Označenie normy: UNE-EN 60749-9:2003
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 30.5.2003
Počet strán: 17
Približná hmotnosť: 51 g (0.11 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE