
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
NORMA vydaná dňa 30.5.2003
Označenie normy: UNE-EN 60749-6:2003
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 30.5.2003
Počet strán: 15
Približná hmotnosť: 45 g (0.10 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE