UNE-EN 60749-5:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

NORMA vydaná dňa 21.11.2003

Anglicky -
Elektronické PDF (60.00 EUR)

Anglicky -

Tlačené (66.00 EUR)

Španielsky -

Elektronické PDF (50.00 EUR)

Španielsky -

Tlačené (55.00 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: UNE-EN 60749-5:2003
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 21.11.2003
Počet strán: 21
Približná hmotnosť: 63 g (0.14 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE